市場課題|分光計測の光源は雑音と波長の途切れが壁

光源の雑音が微弱な信号を隠す
分光計測では、光源の雑音が試料からの弱い信号を隠すことがあります。半導体レーザーは、狙った波長の光と一緒に自然放出光(ASE:レーザーチップの中で増幅された、波長のそろわない光)も出しています。単一分子の発光のような弱い光は、雑音に埋もれて測定できなくなりかねません。
波長の連続変化が途中で途切れる
波長を変える途中で、発振の波長が不連続に跳ぶモードホップも課題です。レンズやチップの屈折率は波長によって変わるため、共振器(光を往復させて強める部分)の実質的な長さがずれ、跳ばずに変えられる範囲は通常10nm(1nmは100万分の1mm)程度に限られます。吸収線(強い吸収が起こる波長)を連続して追う計測では、一度に測れる波長の幅が限定的です。
他にも、先端計測用レーザーの多くが海外製品である、短パルス光源が大型で恒温の設置環境を要する、といった課題があるといわれています。
- モードホップレーザーの波長を連続して変えているときに、発振する波長が別の値へ不連続に跳ぶ現象。共振器の中を往復する光の波の数が途中で切り替わることで起こり、跳んだ区間の波長は測定に使いにくい。


