市場課題|微細化で目立つ、雑音の計測の壁

中間の周波数帯が測りにくい
トランジスタの雑音は、低い周波数では1/f雑音が、高い周波数では熱雑音が目立ちます。2013年の筑波大学などの発表によると、従来の測定機器は、数百kHz以下の低周波数帯と1GHz付近以上の高周波数帯の雑音を計測できる一方、その中間には対応する計測機器がありませんでした。中間の帯域には、集積回路の設計に重要な現象が現れることが知られています。
極低温の雑音は把握が難しい
量子コンピュータの制御回路などでは、極低温の環境で動く電子回路の開発が進められています。極低温の環境では、素子の雑音の振る舞いが室温と異なる可能性があります。極低温の環境で、広い周波数の雑音を実測することが課題です。
他にも、極低温の素子の雑音を予測する素子モデルを作ること、中間の周波数帯の雑音を回路設計に生かすこと、MOSFETの雑音特性を深く理解すること、といった課題があるといわれています。
- 1/f雑音周波数が低いほど大きくなる雑音である。トランジスタでは、ゲート酸化膜の品質などと関わる指標として扱われ、素子の評価に使われる。


