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「「存在する」から「見える」へ。半導体中を流れる伝導正孔の可視化に初めて成功~100年前にディラック博士が提唱した「負のエネルギーを持つ電子」を捉える~」
高エネルギー加速器研究機構(KEK)物質構造科学研究所の福本恵紀特任准教授と筑波大学の吉川康介氏らは、半導体デバイスを動かす電荷キャリアの一つである「伝導正孔」の可視化に成功しました。パルスレーザーを光源とするフェムト秒光電子顕微鏡を使い、電界効果トランジスタが動作する環境で正孔を直接観測し、観測に必要な条件と手順を詳しく示しています。従来のホール効果などの電気計測はトランジスタ全体の平均しか得られませんでしたが、今回の画像化により、膜厚などの不均一性が正孔の観測に影響することが分かりました。共同研究には物質・材料研究機構(NIMS)も参加しています。
出典:科学技術振興機構(JST) 2026年10月21日 プレスリリース
https://www.jst.go.jp/pr/announce/20261021-5/index.html



